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Position: Chinese Standard in English/GB/T 13178-2008
GB/T 13178-2008   Partially depleted gold silicon surface barrier detectors (English Version)
Standard No.: GB/T 13178-2008 Status:valid remind me the status change

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Standard No.: GB/T 13178-2008
English Name: Partially depleted gold silicon surface barrier detectors
Chinese Name: 金硅面垒型探测器
Chinese Classification: F88    Nuclear detector
Professional Classification: GB    National Standard
Source Content Issued by: AQSIQ; SAC
Issued on: 2008-07-02
Implemented on: 2009-4-1
Status: valid
Superseding:GB/T 13178-1991 Partially depleted gold silicon surface barrier detectors
Target Language: English
File Format: PDF
Word Count: 6000 words
Translation Price(USD): 180.0
Delivery: via email in 1~3 business day
本标准参考了IEC 60333:1993《核仪器 半导体带电粒子探测器 测试程序》。
本标准代替GB/T 13178-1991《金硅面垒型探测器》。
本标准规定了部分耗尽金硅面垒型探测器(简称探测器)的产品分类、技术要求、测试方法、检验规则等。
本标准适用于部分耗尽金硅面垒型探测器(不包括位置灵敏探测器)。锂漂移金硅面垒型探测器也
可参照执行。
本标准保留GB/T 13178-1991的大部分内容,对其的主要修改如下:
——增加前言;
——引用新的规范性文件;
——产品的外形及结构尺寸仅保留A型,删去原标准的B型和C型;
——部分耗尽金硅面垒型探测器的分类仅保留最小耗尽层深度为300μm一类,而主要性能增加“允许最大噪声”。
Code of China
Standard
GB/T 13178-2008  Partially depleted gold silicon surface barrier detectors (English Version)
Standard No.GB/T 13178-2008
Statusvalid
LanguageEnglish
File FormatPDF
Word Count6000 words
Price(USD)180.0
Implemented on2009-4-1
Deliveryvia email in 1~3 business day
Detail of GB/T 13178-2008
Standard No.
GB/T 13178-2008
English Name
Partially depleted gold silicon surface barrier detectors
Chinese Name
金硅面垒型探测器
Chinese Classification
F88
Professional Classification
GB
ICS Classification
Issued by
AQSIQ; SAC
Issued on
2008-07-02
Implemented on
2009-4-1
Status
valid
Superseded by
Superseded on
Abolished on
Superseding
GB/T 13178-1991 Partially depleted gold silicon surface barrier detectors
Language
English
File Format
PDF
Word Count
6000 words
Price(USD)
180.0
Keywords
GB/T 13178-2008, GB 13178-2008, GBT 13178-2008, GB/T13178-2008, GB/T 13178, GB/T13178, GB13178-2008, GB 13178, GB13178, GBT13178-2008, GBT 13178, GBT13178
Introduction of GB/T 13178-2008
本标准参考了IEC 60333:1993《核仪器 半导体带电粒子探测器 测试程序》。
本标准代替GB/T 13178-1991《金硅面垒型探测器》。
本标准规定了部分耗尽金硅面垒型探测器(简称探测器)的产品分类、技术要求、测试方法、检验规则等。
本标准适用于部分耗尽金硅面垒型探测器(不包括位置灵敏探测器)。锂漂移金硅面垒型探测器也
可参照执行。
本标准保留GB/T 13178-1991的大部分内容,对其的主要修改如下:
——增加前言;
——引用新的规范性文件;
——产品的外形及结构尺寸仅保留A型,删去原标准的B型和C型;
——部分耗尽金硅面垒型探测器的分类仅保留最小耗尽层深度为300μm一类,而主要性能增加“允许最大噪声”。
Contents of GB/T 13178-2008
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GB/T 13178-2008, GB 13178-2008, GBT 13178-2008, GB/T13178-2008, GB/T 13178, GB/T13178, GB13178-2008, GB 13178, GB13178, GBT13178-2008, GBT 13178, GBT13178