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Standard
GB/T 13178-2008 Partially depleted gold silicon surface barrier detectors (English Version) |
Detail of GB/T 13178-2008
Standard No. |
English Name |
Chinese Name |
Chinese Classification |
Professional Classification |
ICS Classification |
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Introduction of GB/T 13178-2008
本标准参考了IEC 60333:1993《核仪器 半导体带电粒子探测器 测试程序》。
本标准代替GB/T 13178-1991《金硅面垒型探测器》。
本标准规定了部分耗尽金硅面垒型探测器(简称探测器)的产品分类、技术要求、测试方法、检验规则等。
本标准适用于部分耗尽金硅面垒型探测器(不包括位置灵敏探测器)。锂漂移金硅面垒型探测器也
可参照执行。
本标准保留GB/T 13178-1991的大部分内容,对其的主要修改如下:
——增加前言;
——引用新的规范性文件;
——产品的外形及结构尺寸仅保留A型,删去原标准的B型和C型;
——部分耗尽金硅面垒型探测器的分类仅保留最小耗尽层深度为300μm一类,而主要性能增加“允许最大噪声”。
Contents of GB/T 13178-2008