Standard No.:	GB/T 17473.6-2008
English Name:	Test methods of precious metal pastes used for microelectronics - Determination of resolution
Chinese Name:	微电子技术用贵金属浆料测试方法 分辨率测定
Chinese Classification:	H68    Precious metals and their alloys
Professional Classification:	GB    National Standard
ICS Classification:	77.120.99 77.120.99    Other non-ferrous metals and their alloys 77.120.99
Issued by:	AQSIQ; SAC
Issued on:	2008-03-31
Implemented on:	2008-9-1
Status:	valid
Superseding:	GB/T 17473.6-1998 Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics--Determination of resolution
Language:	English
File Format:	PDF
Word Count:	2500 words
Price(USD):	75.00
Delivery:	via email in 1~3 business day

本标准代替ＧＢ／Ｔ１７４７３—１９９８ 《厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法》（所有部分），本标准分
为７个部分,本部分为ＧＢ／Ｔ１７４７３—２００８的第６部分。 本部分规定了微电子技术用贵金属浆料分辨率的测定方法。
本部分适用于微电子技术用贵金属浆料的分辨率测定。 本部分代替ＧＢ／Ｔ１７４７３．６—１９９８ 《厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法　分辨率测定》。
本部分与ＧＢ／Ｔ１７４７３．６—１９９８相比，主要有如下变动：
———将原标准名称修改为微电子技术用贵金属浆料测试方法　分辨率测定；
———增加了固化型贵金属浆料分辨率测定的内容；
———原“光刻膜丝网网径２０２５μｍ 不锈钢丝网”改为“光刻膜丝网，丝网孔径不大于５４μｍ”；
———增加６．３将印有固化型的试样按其规定的工艺要求进行静置、烘干、固化，固化后试样膜厚控制在１μｍ～１５μｍ；
———分辨率规格分级重新定义为０．１ｍｍ、０．２ｍｍ、０．３ｍｍ、０．４ｍｍ、０．５ｍｍ 五个级别。