 |
|
Standard
GB/T 5121.23-2008 Methods for chemical analysis of copper and copper alloys - Part 23: Determination of silicon content (English Version) |
Detail of GB/T 5121.23-2008
Standard No. |
English Name |
Chinese Name |
Chinese Classification |
Professional Classification |
ICS Classification |
Issued by |
Issued on |
Implemented on |
Status |
Superseded by |
Superseded on |
Abolished on |
Superseding |
Language |
File Format |
Word Count |
Price(USD) |
Keywords |
Introduction of GB/T 5121.23-2008
GB/T5121《铜及铜合金化学分析方法》共有27部分。本部分为23部分。本部分代替GB/T5121.23—1996《铜及铜合金化学分析方法 硅量的测定》、GB/T13293.11—1991《高纯阴极铜化学分析方法 钼蓝分光光度法测定硅量》。本方法规定了铜及铜合金中硅含量的测定方法。
本方法适用于铜及铜合金中硅含量的测定。测定范围:0.0001%~0.025%。 本部分与GB/T5121.23—1996、GB/T13293.11—91相比,主要有如下变动:
———方法一是对GB/T13293.11—1991和GB/T5121.23—1996中“第一篇 方法1 萃取钼蓝
分光光度法”的整合修订。测定范围由原标准的0.0001% ~0.0020% 和0.0010% ~
0.025%修订为0.0001%~0.025%,补充了质量保证和控制条款,增加了精密度条款;
———方法二是对GB/T5121.23—1996中“第二篇 方法2 钼蓝分光光度法”的修订,补充了质量保证和控制条款,增加了精密度条款;
———方法三是对GB/T5121.23—1996中“第三篇 方法3 重量法”的修订,补充了质量保证和控制条款,增加了精密度条款。
Contents of GB/T 5121.23-2008