Standard No.:	SJ/Z 11352-2006
English Name:	Integrated circuit IP core test data interchange formats and guidelines specification
Chinese Name:	集成电路IP核测试数据交换格式和准则规范
Chinese Classification:	L56    Semiconductor integrated circuit
Professional Classification:	SJ    Professional Standard - Electronics
ICS Classification:	31.2 31.2    Integrated circuits. Microelectronics 31.2
Source Content Issued by:	MIIT
Issued on:	2006-9-26
Implemented on:	2006-12-1
Status:	abolished
Abolished on:	2024-07-11
Superseding:	公告：中华人民共和国工业和信息化部公告 2024年第17号
Target Language:	English
File Format:	PDF
Word Count:	19000 words
Translation Price(USD):	570.0
Delivery:	via email in 1~3 business day

本规范为集成电路IP核(Intellectual Property Core,以下简称为IP)的提供者制定了测试数据交换格式和可测性设计(DFT,Design-for-Test)指导原则。制定本规范的目的是定义IP提供者和IP集成方之间传递信息的格式和性质。此外,本规范还为IP提供者制定了一些指导原则,以确保IP能用于系统芯片的设计。
数据格式的适用范围涵盖了集成电路中IP创建、定义、交换和集成的描述。