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Standard
GB/T 22319.8-2008 Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 8: Test fixture for surface mounted quartz crystal units (English Version) |
Detail of GB/T 22319.8-2008
Standard No. |
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Introduction of GB/T 22319.8-2008
GB/T22319的本部分规定了能精确测量无引线表面贴装石英晶体元件的谐振频率、谐振电阻及等效电路参数的测量夹具,测量方法采用IEC60444-4:1988和IEC60444-5:1995规定的零相位技术。
使用该测量夹具的等效电路和适用的频率范围见随后条款。
此外,本部分也适用于IEC61240:1994中的无引线晶体元件外壳。测量夹具的等效电路和电参数都基于IEC60444-1:1986和IEC60444-4:1988。负载电容范围为10pF 或更高。本部分还规定了测量系统和犆L片的校准。
本部分适用于能准确测量石英晶体元件的谐振频率、谐振电阻、并电容犆0、动态电容犆1 和动态电感C1的测量夹具,其频率范围为1 MHz~150 MHz,采用基于IEC604445:1995的自动网络分析仪。
Contents of GB/T 22319.8-2008