Standard No.:	GB/T 28634-2025
English Name:	Microbeam analysis—Electron probe microanalysis—Quantitative point analysis for bulk specimens using wavelength dispersive X-ray spectroscopy
Chinese Name:	微束分析 电子探针显微分析 块状试样波谱法定量点分析
Chinese Classification:	G04    Basic standards and general methods
Professional Classification:	GB    National Standard
ICS Classification:	71.040.99 71.040.99    Other standards related to analytical chemistry 71.040.99
Source Content Issued by:	SAMR; SAC
Issued on:	2025-04-25
Implemented on:	2025-11-1
Status:	valid
Superseding:	GB/T 28634-2012 Microbeam analysis—Electron probe microanalysis—Quantitative point analysis for bulk specimen using wavelength dispersive X-ray spectroscopy
Target Language:	English
File Format:	PDF
Word Count:	8500 words
Translation Price(USD):	255.0
Delivery:	via email in 1~3 business day

本文件规定了应用电子探针显微分析仪或者安装在扫描电镜（SEM）的波谱仪（WDS），通过电子束与试样相互作用产生的X射线对试样微米尺度体积内的元素进行定量分析的要求。
本文件还包括如下内容：
――定量分析原理；
――本方法涉及的元素、质量分数和标准物质的一般范围；
――仪器的一般要求；
――有关试样制备、实验条件选择、分析测量和报告等基本过程。
本文件适用于电子束垂直入射到表面平滑、均匀的块状试样的定量分析。对仪器和数据处理软件没有特殊的要求。使用者宜从仪器制造厂家获得仪器安装条件、详细的操作程序及仪器规格等信息。