Standard No.:	GB/T 40129-2021
English Name:	Surface chemical analysis—Secondary ion mass spectrometry—Calibration of the mass scale for a time-of-flight secondary ion mass spectrometer
Chinese Name:	表面化学分析 二次离子质谱 飞行时间二次离子质谱仪质量标校准
Chinese Classification:	G04    Basic standards and general methods
Professional Classification:	GB    National Standard
ICS Classification:	71.040.40 71.040.40    Chemical analysis 71.040.40
Issued by:	SAMR; SAC
Issued on:	2021-05-21
Implemented on:	2021-12-1
Status:	valid
Language:	English
File Format:	PDF
Word Count:	8500 words
Price(USD):	255.00
Delivery:	via email in 1~3 business day

本文件描述了一种用于优化一般分析目的的飞行时间二次离子质谱（SIMS）仪器的质量校准准确度的方法。本文件仅适用于飞行时间仪器，但并不限于任何特定的仪器设计。本文件提供了对一些仪器参数优化的指导，这些参数能使用此程序进行优化，还提供了适用于校准质量标以获得最佳质量准确度的一般峰的类型。